基于变分模式分解和门循环单元的电子系统间歇故障严重程度评估方法

作     者：李晟 徐飞洋 李玉晓 刘松华 张文生 郭肇禄 LI Sheng;XU Feiyang;LI Yuxiao;LIU Songhua;ZHANG Wensheng;GUO Zhaolu

作者机构：江西理工大学理学院赣州341000 太原理工大学信息与计算机学院晋中030600 中国科学院自动化研究所北京100190 

出 版 物：《电子与信息学报》 (Journal of Electronics & Information Technology)

年 卷 期：2022年第44卷第10期

页      面：3673-3682页

核心收录：

学科分类：1305[艺术学-设计学（可授艺术学、工学学位）] 13[艺术学] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 081104[工学-模式识别与智能系统] 0804[工学-仪器科学与技术] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 

基　　金：国家自然科学基金(61762047 61662029 U1636220) 

主　　题：间歇故障 严重程度敏感因子 变分模式分解和门循环单元 故障注入 电子系统 

摘      要：针对电子系统间歇故障信号受噪声影响大且冗余信息多,导致深度神经网络模型对间歇故障严重程度评估能力受限的问题,该文提出一种基于变分模式分解和门循环单元(VMD-GRU)的间歇故障严重程度评估方法。先通过变分模式分解(VMD)对间歇故障信号进行自适应分解得到所有固有模式函数(IMF)分量,再对IMF分量进行相似度分析选择敏感分量,并利用微分增强型能量算子构建严重程度敏感因子。最后,利用严重程度敏感因子训练门循环单元(GRU)循环神经网络评估模型。通过对电子系统的关键电路注入不同严重程度的间歇故障进行评估,结果表明该方法有较强的间歇故障严重程度评估能力,评估结果更加准确有效。