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国际贸易与技术溢出:经验研究的最新进展

International trade and Technology Spillovers: The Latest Progress of the Empirical study

作     者:李有 刘万岚 LI You;LIU Wan-lan

作者机构:浙江大学经济学院 北京建工集团 

出 版 物:《国际贸易问题》 (Journal of International Trade)

年 卷 期:2007年第291卷第3期

页      面:16-21页

核心收录:

学科分类:12[管理学] 120202[管理学-企业管理(含:财务管理、市场营销、人力资源管理)] 1202[管理学-工商管理] 

主  题:进口贸易 技术溢出 CH模型 

摘      要:有关国际贸易与技术溢出的最新经验研究都是在Coe和Helpman(1995)计量模型(简称CH模型)的基础上展开的。CH模型的扩展涉及到:R&D溢出变量的不同设定形式;其它溢出渠道的引入;人力资本的具体作用。本文对国外关于进口贸易与技术溢出的经验研究的最新进展进行了综述,并揭示了进一步研究的方向。

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