半导体分立器件盐雾试验关键参数的合理选取
Reasonable Selection of Key Parameters in Salt Atmosphere for Semiconductor Discrete Devices作者机构：中国电子科技集团公司第五十五研究所南京211111
出 版 物：《中国检验检测》 (China Inspection Body & Laboratory)
年 卷 期：2022年第30卷第5期
页 面：52-55页
学科分类：08[工学] 080402[工学-测试计量技术及仪器] 0804[工学-仪器科学与技术]
摘 要：半导体分立器件中性盐雾试验中,各类试验参数的选取,对试验的可操作性、试验的效果、试验结果的可重复性和一致性等有很大影响。通过分析确定盐雾试验的关键参数,并找出不同关键参数之间的换算规律,从取得较好试验效果、试验人员操作便利、保证结果准确度和一致性的角度出发,得出按GJB128A-1997方法1041进行半导体分立器件盐雾试验的优选试验条件。
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