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椭圆偏振光谱数据处理的分段多项式法

Data Analysis for Spectroscopic Ellipsometry with Piecewise Polynomial Method

作     者:李秋俊 莫党 Li Qiujun Mo Dang

作者机构:中山大学物理学系 

出 版 物:《中山大学学报(自然科学版)》 (Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni)

年 卷 期:1998年第37卷第6期

页      面:35-39页

核心收录:

学科分类:070207[理学-光学] 07[理学] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 0702[理学-物理学] 

基  金:国家自然科学基金 广东省高等学校重点学科资助 

主  题:椭圆偏振光谱 数据处理 分段多项法 铁电薄膜 

摘      要:采用分段多项式拟合的方法处理椭圆偏振光谱测试数据,可以同时得到样品的厚度和光学常数谱.2个计算实例,①为SiO2薄膜,②为新型的掺镧的锆钛酸铅(PLZT)非晶类铁电薄膜.该方法精度高,具有较好的通用性.

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