用全磁迹放音校准带测试立体声录音机存在的几个问题
作者机构：中国国际广播电台技术处
出 版 物：《信息记录材料》 (Information Recording Materials)
年 卷 期：1989年第3期
页 面：28-29页
学科分类：081702[工学-化学工艺] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术]
主 题：立体声录音 磁迹 校准带 放音 磁平 单声道 磁芯 试验记录 测试带 边缘效应
摘 要：众所周知,对录音机的测试,离不开校准磁带,但目前我国还没有任何厂家能生产合格的专业用立体声录音机测试用的放音校准带,国际上也没有成品可作为仿制原型。所以,立体声录音机放音通道的测试,普遍采用全磁迹(单声道)放音校准带。这样,在校准立体声录音机时,磁带上已录全磁迹,只是部分地对应于放音头磁芯的宽度,从而产生了较大的误差。其主要原因如下:一、通过大量试验记录证明。
维普期刊数据库
同方期刊数据库