光波导技术同步测量棱镜及波导薄膜参数
Simultaneous Measurement of Prism and Waveguide Film Parameters by Waveguide Technology作者机构:华南师范大学物理与电信工程学院量子信息技术实验室广东广州510006
出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)
年 卷 期:2012年第32卷第12期
页 面:153-157页
核心收录:
学科分类:070207[理学-光学] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-光学工程] 0702[理学-物理学]
基 金:广东省科技计划项目(C60109 2006B12901020)资助课题
主 题:测量 平面波导 折射率 棱镜耦合 全反射 M线 厚度
摘 要:依据全反射理论和棱镜耦合原理,实现了对棱镜折射率及波导薄膜材料折射率和厚度的同步测量。使用高准直半导体激光器激光入射到棱镜内部与波导膜的分界面上,逐步旋转棱镜或改变棱镜的入射角,得到棱镜耦合M线,曲线前面几组的波谷为波导模激发,在M线左侧收尾处有一个不完整波峰,其反射光强随入射角迅速衰减,为全反射时的临界点,由此可实现棱镜及波导薄膜参数的同步测量;用此法测量了棱镜耦合一体化平面波导棱镜的折射率和聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)聚合物波导薄膜的折射率和厚度。测量棱镜折射率精度为±1.9×10-4,波导薄膜折射率和厚度的精度分别为±6.2×10-4μm和±1.6×10-2μm。