飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合化学衍生法分析杂环新化合物的结构
Characterization of Heterocyclic New Compounds' Structure Using Time - of - Flight Secondary Ion Mass Spectrometry(TOF - SIMS) Combined with Chemical Derivation作者机构：复旦大学材料科学系上海200433 复旦大学化学系上海200433
出 版 物：《化学学报》 (Acta Chimica Sinica)
年 卷 期：1996年第54卷第8期
页 面：802-806页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 070303[理学-有机化学] 0703[理学-化学]
主 题：TOF SIMS 杂环化合物 有机结构分析 化学衍生法
摘 要：飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析了难挥发的杂环新化合物咪唑啉硫氰酸盐及其三种衍生物,确认出很强的氢离化及银离化准分子离子峰,通过对各种衍生物谱图的对照分析,确认出较强的含有结构特征的碎片离子峰,并对该化合物在离子轰击下的裂解规律作了分析,支持了对该新化合物结构的鉴定.
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