基于CC标准的密码芯片侧信道泄露评估

作     者：陈传禄 鹿福祥 

作者机构：中国质量认证中心华南实验室 

出 版 物：《质量与认证》 (China Quality Certification)

年 卷 期：2021年第S1期

页      面：222-225页

学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 11[军事学] 1105[军事学-军队指挥学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 0839[工学-网络空间安全] 08[工学] 110505[军事学-密码学] 110503[军事学-军事通信学] 

主　　题：侧信道攻击 CC标准 物理攻击 信息安全 

摘      要：在智慧化、智能化社会的建设导向下,物联网技术的推动下,万物互联互通使得网络的连接更有价值。“互联的实现过程使数据安全面临重大的风险和威胁,密码设备的安全评估和认证成为其安全应用的必要阶段,CC标准是当前对密码设备评估认证认可度最高的标准之一。本文对CC标准中关于密码芯片的侧信道泄露评估进行了分析,首先介绍了三种流行的、认可度较高的评估标准;其次,讨论了侧信道攻击类型以及对密码芯片的威胁;最后,分析了“攻击导向的CC标准进行密码芯片侧信道泄露评估的流程和大致内容。目前,密码芯片实现“标准化的评估还存在一定的差距,尚需相关研究者共同努力解决现存问题,本文可以帮助读者了解密码芯片侧信道泄露评估的标准和方法。