X射线荧光在地质材料卤族元素分析中的应用评介

作     者：李小莉 高新华 王毅民 邓赛文 王祎亚 李松 LI Xiao-li;GAO Xin-hua;WANG Yi-min;DENG Sai-wen;WANG Yi-ya;LI Song

作者机构：中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所河北廊坊065000 钢铁研究总院北京100081 国家地质实验测试中心北京100037 

出 版 物：《光谱学与光谱分析》 (Spectroscopy and Spectral Analysis)

年 卷 期：2022年第42卷第4期

页      面：997-1009页

核心收录：

学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 0705[理学-地理学] 0804[工学-仪器科学与技术] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

基　　金：国家自然科学基金项目(41903071,41371212,40902055) 国家重大科学仪器设备开发专项(2012YQ050076)资助 

主　　题：X射线荧光 地质材料 卤族元素 评述 

摘      要：卤族元素氟、氯、溴、碘广泛分布在地圈、水圈和生物圈,它们是矿产资源,也是许多地学研究的信息载体,更与人类生活紧密相关。卤族元素分析是地质分析的重要组成部分,而X射线荧光光谱分析方法在当今的卤族元素分析中占有重要地位。本文收集我国1988年—2020年间X射线荧光光谱分析地质材料氟、氯、溴、碘的文献126篇,在简述卤族元素的天然存在、分析技术、X射线谱学特点及现代X射线荧光光谱仪器条件的基础上,分类评介了X射线荧光光谱在氟、氯、溴、碘分析中的应用。样品类型包括:作为主组分的卤化物矿石矿物,作为次量和痕量组分的岩石、矿石、海洋样品、煤及石油、天然卤水、生物样品和以土壤、沉积物为主的地球化学调查样品。对作为主元素存在的矿石矿物中的F和Cl,测定精度(RSD)可达到0.5%的水平;对于以痕量元素存在的F,Cl,Br和I,多数文献的检出限水平(粉末压片制样)分别为:50,20,1.0和10μg·g^(-1)。至今已经有两篇文献报道了经一次压片制样依次测定了样品中的F,Cl,Br和I四元素,这无论是对地质分析,还是X射线荧光光谱分析都是一明显进展。文章最后指出,X射线荧光光谱已经成为地质材料卤族元素分析的重要方法,而由于其制样简单、快速、经济、无污染和多元素同时测定的独特优势在未来的卤族元素分析中将发挥更大作用;同时也提醒关注Cl在测定中的不稳定问题和卤族元素分析在XRF分析中的典型意义。引文134篇。