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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定多金属矿中二氧化硅

Determination of silicon dioxide in polymetallic ore by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry

作     者:吴俊 李策 任小荣 曲少鹏 高钰 

作者机构:湖北省地质实验测试中心 

出 版 物:《冶金分析》 (Metallurgical Analysis)

年 卷 期:2022年第42卷第2期

页      面:33-39页

学科分类:0709[理学-地质学] 07[理学] 070901[理学-矿物学、岩石学、矿床学] 070302[理学-分析化学] 0703[理学-化学] 

主  题:多金属矿 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES) 二氧化硅 

摘      要:多金属矿具有重要的研究和开采价值,测定其中的二氧化硅含量,对于综合判断多金属矿石的化学组成、矿物组成具有重要意义,现有测定方法不能满足快速准确分析多金属矿石中二氧化硅的需求。实验称取0.100 0 g样品于银坩埚中,加1.0 g氢氧化钠,于马弗炉中从室温逐步升温至640℃熔融,在塑料烧杯中经水浸取后,将浸取液倒入热的盐酸(1+1)中,并不断搅拌,再将溶液加热至沸,冷却后定容于250 mL容量瓶中,最终控制溶液为5%盐酸酸度。选择Si 251.611 nm作为分析线,建立了使用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定多金属矿石中二氧化硅的方法。结果表明,二氧化硅的质量浓度在1.00~50.00μg/mL范围内与其发射强度呈线性关系,线性相关系数为0.999 8;方法检出限为0.01%(质量分数,下同),定量限为0.04%。按照实验方法测定多金属矿石样品中二氧化硅,结果的相对标准偏差(RSD,n=6)小于3%;测定多金属矿有证标准物质中二氧化硅,其相对误差绝对值小于3.1%,测定值与推荐值相吻合。

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