DOE在TFT特性探索中的应用
作者机构：京东方科技集团股份有限公司显示事业品质中心显示品保中心B4 QA部 北京京东方显示技术有限公司
出 版 物：《电子世界》 (Electronics World)
年 卷 期：2022年第2期
页 面：188-190页
主 题：树形图 流程分析 DOE 参数因子 科学品质 响应变量 策划 逻辑展开
摘 要：利用科学品质工具,进行TFT特性的探索。探索以要因筛选、DOE优化、趋势化管控的逻辑展开。首先要因筛选通过流程分析定范围,树形图分析锁要因,然后用回归分析验证根本原因。筛选出要因之后我们利用DOE的方法进行策划实验去寻找最佳的参数组合,主要是策划明确响应变量Y,挑因子定水平,设计DOE实验,再去实施和收集数据,以及对结果进行分析,针对分析出来的有效的参数因子,我们对它进行趋势化管控。
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