用扫描探针显微镜测量材料表面电学和磁学特性
作者机构：清华大学物理系 北京100084
出 版 物：《实验技术与管理》 (Experimental Technology and Management)
年 卷 期：2003年第20卷第4期
页 面：13-17页
学科分类：08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
主 题：扫描探针显微镜 电场力显微镜 磁力显微镜 测量技术 材料
摘 要：扫描探针显微镜是用于测量材料表面不同性质的一类仪器.扫描探针显微镜在测量材料表面电学和磁学特性方面的测量技术发展较快.本文简要介绍了电场力显微镜、磁力显微镜的测量原理,着重对新发展的测量技术的原理及应用进行了描述.
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