基于技术功能指标的技术生命周期判断方法研究

作     者：王山 Wang Shan

作者机构：中国社会科学院经济研究所北京100836 

出 版 物：《情报杂志》 (Journal of Intelligence)

年 卷 期：2021年第40卷第11期

页      面：46-52页

核心收录：

学科分类：12[管理学] 120202[管理学-企业管理（含：财务管理、市场营销、人力资源管理）] 1202[管理学-工商管理] 

主　　题：技术功能指标 技术生命周期 多指标测度体系 CRT技术 TFT-LCD技术 

摘      要：[研究目的]技术生命周期准确、合理、有效的判断不仅有助于及时明确国内外技术发展动态、积极调整技术发展战略,更能尽早捕捉技术领域未来的发展契机和可能的发展趋势。[研究方法]以专利及论文文献为基础,构建了含有专利与论文外部特征指标与内容层面技术功能指标在内的技术生命周期多指标测度体系及技术生命周期指数模型,然后采用已知技术生命周期结果的阴极射线管显示技术与薄膜晶体管液晶显示技术验证了所构建技术生命周期多指标测度体系的有效性。[研究结论]较S曲线、Fish-Pry模型而言,该研究所构建的技术生命周期多指标测度体系在技术生命周期不同发展阶段分界限方面(萌芽期与成长期分界限、成长期与成熟期分界限、成熟期与衰退期分界限)更加符合实际,更加精准。