固体表面上硅烷薄膜的红外光谱研究
Study on Infrared Spectrum of Slioxane Thin Film on Solid
作 者：刘大中 郑莹
作者机构：山东轻工学院化工系山东大学
出 版 物：《光谱实验室》 (Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory)
年 卷 期：1995年第12卷第4期
页 面：38-40页
核心收录：
学科分类：081704[工学-应用化学] 07[理学] 08[工学] 0817[工学-化学工程与技术] 070302[理学-分析化学] 070303[理学-有机化学] 0703[理学-化学]
主 题：红外光谱 硅烷 硅烷薄膜
摘 要：在固体表面上，硅烷薄膜的红外光诸能够用傅里叶红外光谱仪得到。实验结果表明，特征吸收带的频率与基材物质的性质有关。
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