椭偏法研究硫化锌薄膜的中红外光学特性
Study of Mid-infrared Optical Properties of ZnS Thin Films by Spectroscopic Ellipsometry作者机构:西南民族大学电气信息工程学院成都610041 西南技术物理研究所成都610041
出 版 物:《材料导报(纳米与新材料专辑)》
年 卷 期:2015年第29卷第1期
页 面:93-97页
学科分类:08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)]
基 金:西南民族大学研究生"创新型科研项目"(CX2014SZ129)
摘 要:采用电子束蒸发法在K9玻璃衬底上分别制备了设计厚度为115nm、467nm、652nm的硫化锌薄膜,分别记为A、B、C;采用椭偏法研究薄膜的光学特性。对薄膜A、B、C进行Brendel振予拟合,根据ZnS薄膜特性及成膜特点,建立模型“基底(K9玻璃)/有效介质层(50%K9玻璃及50%ZnS)/ZnS薄膜/表面粗糙层(50%ZnS玻璃及50%空气)/空气,得到了ZnS薄膜的光学常数曲线和厚度。结果表明,用Brendel振子建立的上述模型对实验数据进行拟合,得到了较小的评价函数MSE;硫化锌薄膜在3000-12500nm波长范围内折射率n和消光系数k都随波长的增加而减小,消光系数惫在长波趋近于0。ZnS薄膜的测量厚度与设计厚度接近。该研究结果对制备和测量高质量的ZnS薄膜有参考意义。