基于均值点展开的单变元降维法在EIT不确定性量化研究中的应用

作     者：赵营鸽 李颖 王灵月 崔阳阳 王冠雄 Zhao Yingge;Li Ying;Wang Lingyue;Cui Yangyang;Wang Guanxiong

作者机构：省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室(河北工业大学)天津300130 河北工业大学天津市生物电工与智能健康重点实验室天津300130 

出 版 物：《电工技术学报》 (Transactions of China Electrotechnical Society)

年 卷 期：2021年第36卷第18期

页      面：3776-3786页

核心收录：

学科分类：080801[工学-电机与电器] 0808[工学-电气工程] 08[工学] 0714[理学-统计学（可授理学、经济学学位）] 0701[理学-数学] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

基　　金：河北省自然科学基金资助项目(E2015202050) 

主　　题：电阻抗成像 不确定性量化 单变元降维法 蒙特卡罗模拟 混沌多项式展开 

摘      要：在电阻抗成像(EIT)技术中,介质参数的不确定性会对正问题计算产生影响,进而影响图像重构,因而,对EIT介质参数不确定性量化的研究具有重要的意义。采用四层同心圆模型和二维圆模型作为仿真算例对EIT正问题进行研究,将电导率分布参数作为无相互作用的随机输入变量,使其服从随机均匀分布,基于均值点展开的单变元降维法(UDRM)计算得到边界电极电压的均值、标准差和概率分布等相关统计信息,分析电导率的不确定性对模型输出边界测量电压的影响,并与蒙特卡罗模拟(MCS)法、混沌多项式展开(PCE)法仿真结果进行比较。结果表明,UDRM能够准确高效地处理低维不确定性问题,且在处理高维不确定性问题时能有效缓解“维数灾难问题。