一种新型低成本三节点翻转容错的锁存器设计
A Novel Low Cost Three Node Upset Tolerant Latch Design作者机构：安徽理工大学计算机科学与工程学院安徽淮南232001
出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)
年 卷 期：2021年第32卷第15期
页 面：15-17,20页
学科分类：080903[工学-微电子学与固体电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学]
主 题：抗辐射加固技术 三模冗余 三节点翻转 时钟门控 高阻态
摘 要：基于抗辐射加固技术,提出了一种新颖的低功耗的三模冗余三节点翻转容错锁存器,锁存器由三个单节点翻转自恢复模块组成,每个模块包含四个互锁的C单元,使用了时钟门控技术和快速通路,避免在透明期形成的电流竞争,从而降低了功耗和延迟。实验结果表明,与现有的加固锁存器相比,所提出的锁存器对于高阻态不敏感,该锁存器在牺牲20.65%面积开销的代价下,延迟平均下降了31.83%,功耗平均下降了42.41%,PDP下降了77.62%。
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