基于单光束Z-scan技术的非线性测量技术的发展
Developments of nonlinear measuring techniques based on single-beam Z-scan technique作者机构：黑龙江大学电子工程学院哈尔滨150080
出 版 物：《光学技术》 (Optical Technique)
年 卷 期：2009年第35卷第4期
页 面：630-634页
核心收录：
学科分类：070207[理学-光学] 07[理学] 0702[理学-物理学]
基 金：中国博士后科学基金资助项目(20070410684)
摘 要：介绍了由Sheik-Bahae等人提出的、用于测量材料三阶非线性的单光束Z-scan技术。该技术能同时测量材料的非线性折射和非线性吸收,并能给出非线性折射的符号。介绍了以该技术为基础并经改进的几种测量技术:遮挡Z-scan,I-scan和微分Z-scan。引出了近10年来新发展的相位4f相干成像技术,并对其基本原理进行了阐述,分析了其应用特点。该技术具有使用单脉冲进行测量,光路简单,测量灵敏度高,无样品移动等特点。
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