线性阵列逆向调制器反射光强测试实验研究
Experimental research on measurement of reflected light intensity of array retro-reflected modulator作者机构：中国人民解放军战略支援部队航天工程大学电子与光学工程系北京101416 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学研究生院北京101416
出 版 物：《激光与红外》 (Laser & Infrared)
年 卷 期：2021年第51卷第6期
页 面：747-751页
学科分类：080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080401[工学-精密仪器及机械] 0804[工学-仪器科学与技术] 0803[工学-光学工程]
主 题：逆向调制 线性阵列 光场分布 光强分布 离焦量 入射角
摘 要：为了分析逆向调制器的反射光场和反射光强的变化规律,利用532 nm激光照射逆向调制器阵列,测试得到了离焦量、入射角变化时的逆向调制器的反射光场和反射光强,得到了阵列调制器反射光强与单个逆向调制器反射光强关系。测试结果表明,一定范围的正离焦使反射光束发散角变小,反射光能量聚焦度好,负离焦相反。入射角使反射光场发生畸变,反射光强与入射角成反比。离焦量为0或负离焦时,阵列调制器的反射光强是单个调制器反射光强的线性叠加。
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