阵列感应测井HDIL趋肤效应影响校正
Correction of Skin Effect of HDIL in Array Induction Logging作者机构:油气资源与勘探技术教育部重点实验室(长江大学)武汉430100 长江大学地球物理与石油资源学院武汉430100 中国石油塔里木油田分公司勘探事业部库尔勒841000 中海油田服务股份有限公司燕郊065201
出 版 物:《当代化工》 (Contemporary Chemical Industry)
年 卷 期:2021年第50卷第2期
页 面:379-383页
学科分类:081803[工学-地质工程] 08[工学] 0818[工学-地质资源与地质工程]
基 金:国家自然科学基金项目,地层条件下富有机质页岩电磁响应机理与应用基础研究(项目编号:U1562109) 国家科技重大专项,古老地层密度、磁化率、电阻率等岩石物性研究(项目编号:2016ZX05004-003-007)联合资助
主 题:阵列感应测井 HDIL 视电导率 趋肤效应校正 虚部分量法
摘 要:趋肤效应校正是阵列感应测井信号聚焦合成前的必要步骤,对信号聚焦合成的效果起着至关重要的作用。根据复合线圈系理论和电磁场理论,提出了一种仅使用均匀介质中视电导率虚部分量的趋肤效应校正新方法。分别使用迭代法、导数多频率法和虚部分量法对阵列感应测井HDIL的趋肤效应进行校正,定量分析了这3种方法的校正效果。结果表明:虚部分量法校正效果最好,趋肤效应校正后,在地层电导率为0.001-10S·m^(-1)的范围内,子阵列1-5的最大相对误差为0.13%,子阵列6的最大相对误差为1.3%。子阵列7在地层电导率为0.001-5 S·m^(-1)的范围内最大相对误差为2%,在地层电导率为5-10 S·m^(-1)的范围内最大相对误差为8.9%。研究结果为阵列感应测井趋肤效应校正提供了新的思路,对3种方法校正效果的综合分析有助于阵列感应测井仪器的研发和改进。