SMILE卫星表面电位特性分析
Analysis of Surface Potential Characteristics for SMILE Satellite作者机构:中国科学院微小卫星创新研究院上海201210
出 版 物:《真空科学与技术学报》 (Chinese Journal of Vacuum Science and Technology)
年 卷 期:2021年第41卷第1期
页 面:22-28页
学科分类:0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术(可授工学、理学学位)] 0817[工学-化学工程与技术] 0806[工学-冶金工程] 08[工学] 082504[工学-人机与环境工程] 0805[工学-材料科学与工程(可授工学、理学学位)] 0703[理学-化学] 0825[工学-航空宇航科学与技术] 0702[理学-物理学]
基 金:国科学院战略性先导科技专项(A类)资助项目(批准号:XDA17010301)
摘 要:SMILE卫星在轨科学探测为大倾角椭圆轨道,在轨将遭遇多种等离子体环境,卫星表面带电状态将影响卫星在轨安全性和科学探测任务。在有限元建模的基础上,利用SPIS(Spacecraft Plasma Interaction System)软件仿真和评估了SMILE卫星在轨表面带电特性。仿真结果显示,卫星在不同环境下的表面充电电位存在差异,但不会影响科学载荷的数据获取。通过分析各种等离子体环境下充电电流,发现二次电子发射电流和光照区光电流对卫星表面充电起主导作用。卫星表面ITO膜阻值对卫星电位产生影响。