薄膜厚度对La_(1.85)Sr_(0.15)CuO_4薄膜结构和超导电性的影响
The effect of thickness on the structure and superconductivity of La_(1.85)Sr_(0.15)CuO_4 films作者机构：中国科学院物理研究所超导国家重点实验室北京100190
出 版 物：《物理学报》 (Acta Physica Sinica)
年 卷 期：2008年第57卷第11期
页 面：7257-7261页
核心收录：
学科分类：08[工学] 080501[工学-材料物理与化学] 0805[工学-材料科学与工程（可授工学、理学学位）] 0704[理学-天文学]
基 金：国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2006CB601000 2006CB921802)资助的课题~~
主 题：La1.85Sr0.15CuO4薄膜 超导电性 晶体结构
摘 要：使用直流同轴磁控溅射法,在SrTiO3(STO)衬底上成功制备出c取向的La1.85Sr0.15CuO4(LSCO)超导薄膜.通过电输运测量系统和X射线衍射仪研究了薄膜厚度对LSCO(x=0.15)薄膜电学性质和晶体结构的影响.实验证明随着膜厚增加,(006)衍射峰的半高宽(Full Width at Half Maximum,FWHM)逐渐减小,薄膜的取向性增强,与此同时,薄膜的超导转变温度TC逐渐提高.
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