基于康普顿散射的物体厚度测量方法

作     者：左凯 孙同景 李振华 ZUO Kai,SUN Tong-jing,LI Zhen-hua School of Control Science and Engineering,Shandong University,Jinan 250061,China

作者机构：山东大学控制科学与工程学院山东济南250061 

出 版 物：《山东大学学报（工学版）》 (Journal of Shandong University（Engineering Science）)

年 卷 期：2009年第39卷第6期

页      面：68-71,77页

学科分类：0711[理学-系统科学] 07[理学] 08[工学] 081101[工学-控制理论与控制工程] 0811[工学-控制科学与工程] 071102[理学-系统分析与集成] 081103[工学-系统工程] 

主　　题：X射线 康普顿散射 测量 厚度 

摘      要：针对检测过程中物体衰减系数难以直接获得的实际问题,提出了一种新的测量方法.该方法基于工业CT中的X射线衰减的基本原理,利用高能光子在穿透物体时产生康普顿散射效应的特点,建立了被测物体密度与衰减系数之间的函数关系.基此,通过计算衰减系数,快速、精确的得到被测物体的厚度.仿真实验验证了所提方法的有效性.