基于机器视觉的多核芯片分布式存储效率检测系统设计

作     者：祁宏伟 QI Hongwei

作者机构：集宁师范学院计算机学院内蒙古乌兰察布012000 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2021年第44卷第3期

页      面：182-186页

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程(可授管理学、工学学位)] 080901[工学-物理电子学] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 081201[工学-计算机系统结构] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

主　　题：机器视觉 多核芯片 分布式存储 效率检测 检测耗时 准确性 

摘      要：针对传统芯片储存效率检测系统存在的检测效率低、准确性差的问题,基于机器视觉技术设计了一种新的多核芯片分布式存储效率检测系统。由背景光源、驱动电路、图像采集电路构成电路结构,配合DSP和ARM双处理器对得到的嵌入式图像进行处理和控制。硬件结构主要由S3C6410ARM处理器与Linux操作系统构成,并设计了图像采集电路、图像处理电路、ARM外围控制电路以及VGA接口电路;软件部分通过计算分配空间占有率、空间利用率、空间块利用率和最佳利用率实现多核芯片分布式存储效率的检测。实验对比结果表明,基于机器视觉的多核芯片分布式存储效率检测系统的检测耗时较短、检测效率和准确性均较高。