一种线阵CCD图像灰度分布快速校正方法

作     者：朱均超 刘铁根 刘德瑞 邓集杰 柳森 ZHU Jun-chao;LIU Tie-gen;LIU De-rui;DENG Ji-jie;LIU Sen

作者机构：天津大学精密仪器与光电子工程学院光电信息技术科学教育部重点实验室天津300072 核工业理化工程研究院 

出 版 物：《光电工程》 (Opto-Electronic Engineering)

年 卷 期：2007年第34卷第12期

页      面：108-112页

核心收录：

学科分类：0808[工学-电气工程] 0809[工学-电子科学与技术（可授工学、理学学位）] 08[工学] 080203[工学-机械设计及理论] 0802[工学-机械工程] 

基　　金：国家自然基金科学仪器专项资助项目 

主　　题：灰度分布 实时校正 光能衰减 线阵CCD 色选机 

摘      要：提出一种应用于色选机的高速线阵CCD图像灰度分布校正方法,能够快速有效的提高线阵CCD图像质量。通过分析色选机成像系统中使用的大视场、大相对孔径光学系统的光能量衰减影响,高速线阵CCD的光电响应特性,建立了校正模型,模型中线阵CCD的各个光敏单元的衰减因子通过标准样板标定确定。采用FPGA实现校正模型,可在图像传输的过程中同时进行校正,每帧图像的校正延时不到0.1μs,满足色选机的高速处理要求。